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阿贝原则

阿贝原来自则是仪器设计中一个非常重要的设计原则。古典的阿贝原则是阿贝于1890年提出的一项测量仪设计的指导性原360百科则。他说:要使测量仪给出精确的测量结果,必须将被测件布置在基准元件沿运动方向的延长线上。因此可以称为共线原则。

  • 中文名称 阿贝原则
  • 外文名称 Abbe's principle
  • 提出者 阿贝
  • 提出时间 1890年

阿贝原则

  来自阿贝原则( Abb's 尔载业石principle):被测量轴线只有与标准量的测量轴线重合或在其延长线上时,测量才会得到精确的结果。

  阿贝原则是长度计量的最基本元括盐如析甚盐帮了给得原则,其意义在于它避免了因导轨误差引起的一次测量误差。在检定和测试中遵守阿贝原则可提高测量的准确度,特别是在使用不符合阿贝原则的仪器时,更要360百科注意阿贝原则的应用。

  例:千分尺,内径千分尺等符合;游标卡尺不符合。

典型仪器

  阿贝原则的经典应用是阿贝尔比长和螺旋千分尺,其精度为um级别。下面对螺旋千分尺的结构和工作原理进行介绍。

外径千分尺

  图1所示为用外径千分尺测量工件直径,符刘顺视两合阿贝原则,因为这里作为标准尺的千分尺测微螺杆轴线在图1 外径千分尺被测线的延长线上。如果在测量过程中,两手扶消八初及势何持千分尺的A、B两点,则尺身在重力作用下会发生如图1所示的变形。显然,存在一个关于角度变形△a的一次误差△l=-htan△a=-h△a显然,这是由于尺身的角度变形△a和h共同导致千分尺零位的一个附加变化所引起的。注意到,若h=0,同样存在△a,但不会有一次渐还台的字则误差。

阿贝比长仪

  一种精密测量直线距离的仪器﹐简称比长仪(图2)。在天文工作中﹐用于测量底片上谱线间的距离。比长仪的量程200切技造毫衡司互减征怀毫米﹐测量精度可达±1.5微查更包周挥跳米。仪器分三部分﹕精密导轨。置片台﹐兴必轻几审呢井原是一块可沿导轨移动的规贵玉粉兵求钢板﹐它的一侧装著一条透明毫米尺﹐另一侧放待测底片。两架固定联结的显微镜﹕一架用来对物体﹐称为对准显微镜﹔另一架用来对准毫米尺上的刻线和读数﹐称为读数显微镜。移动置片台﹐当对准显微镜从对准一条谱线到另一条谱线时﹐读数显微镜对准的毫米尺上的二次读数之差﹐即为谱线间的距离。根据阿贝提出的原理﹐只要待测对象和毫米尺精确地位于同一高度﹐置片台的滑动误差就不会影响测量精度。

阿贝原则

  图2 阿贝比长仪仪器设计真唱转件文社语究井谓英要求读数显微镜物镜的放大率者复吃补财铁抓代几又而必须为5 倍,这样,石英标尺上相距为1 mm 的两条刻划线,经物镜成像在分划板上后,其像的间距为5 mm,刚好与固定分划板上10 个分度的总长度相等,这样,固定分划板上的一个刻度格的长度,对应于石英标尺上的实际距离为0. 1 mm。因此二圈螺旋线之分度值为l/ 10 mm。圆刻尺一个分度值为1/ 1 000 mm。因此转动手柄2,分别读出转动前保调跑局价室心静和转动后的读数便可以得出移动的长度。

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